椭偏仪是一种光学技术,用于测量极薄薄膜或材料层的厚度和光学特性。可测量的特性是折射率,或弯曲的光线量,以及光吸收的程度,称为 吸收系数 。椭偏仪是用来进行这些测量的设备测量。 科学家使用烧杯式椭偏仪,通过将明确定...
椭偏仪是一种光学技术,用于测量极薄薄膜或材料层的厚度和光学特性。可测量的特性是折射率,或弯曲的光线量,以及光吸收的程度,称为
吸收系数。椭偏仪是用来进行这些测量的设备测量。
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科学家使用烧杯式椭偏仪,通过将明确定义的光源照射到材料上并捕捉反射来工作。现代椭偏仪使用激光器,典型的是氦氖激光器,作为光源。椭偏仪光束首先通过偏振器,这样只有朝向已知方向的光才能通过,然后通过一个叫做补偿器的装置,它使光束发生椭圆偏振,剩余的光被反射到被研究的物质上。分析依赖于斯内尔定律;当一束光照射到一个材料上时,有些会立即反射,有些会在反射前穿过材料的远侧。通过测量通过两次反射,可以确定器件的厚度。反射光也会发生偏振变化,这种变化用于计算折射率和吸收系数。要使椭偏仪正常工作,被测材料必须满足一定的物理性质。样品必须组成一小部分定义明确的层。这些层必须是光学均匀的,在各个方向都有相同的分子结构,并且反射大量的光。如果违反了这些要求,标准程序将无法工作。椭圆偏振仪是非常灵敏的设备,能够测量薄到一个原子它们被广泛应用于半导体制造业,在半导体制造业中,连续的材料层被化学地生长在另一层上。椭圆偏振法是无损的;用椭偏仪测量的材料不会受到工艺的不利影响。由于这种特性,椭偏仪在生物科学中的应用越来越多。生物材料远不如人造材料均匀,而且一般不具备传统椭偏测量所需的物理特性。新技术,如使用多个不同角度排列的椭偏仪,已经被开发出来,以与这些材料。