什么是散射计(Scatterometer)？
散射计是一种精确的测量设备，它能传输微波能量，并读取从目标表面散射回来的光的反射，以获得尺寸数据。"后向散射"光可以被读取为目标表面成像的图形或彩色图叠加，因此可以进行非常精确的观测和测量。这项技术在实验室、实...
散射计是一种精确的测量设备，它能传输微波能量，并读取从目标表面散射回来的光的反射，以获得尺寸数据。"后向散射"光可以被读取为目标表面成像的图形或彩色图叠加，因此可以进行非常精确的观测和测量。这项技术在实验室、实地和卫星上被用于许多科学、工业和军事应用。一些应用包括测量海洋波高和洋流，以确定风向和速度，用于海洋洋流分析和监测；此外，散射测量可以测量地形、全球气候和天气事件，精密微电路和纳米技术的构建。
散射计可以测量地形。
散射计测量在不利条件下进行，取代了不精确的技术，这些技术可以被从云层覆盖到光学设备缺陷的不规则性所阻碍。使用微波脉冲提供信号和噪声的精确反馈，从而提供清晰、可靠的，以及可重复的数据收集。从这项技术获得的数据为包括海洋工业在内的许多领域的科学家带来了新的研究领域，其中散射测量提供了对天气模式、渔业、海洋安全和全球气候的洞察。
使用光学探测器不同波长的激光、散射计可以确定表面和底层基板的光学特性。地基技术可以利用抛物面反射器、射频（RF）子系统、中频（IF）电子学，以及数据采集单元。这些系统可以监测来自森林、土壤和植被等地形的后向散射数据
在制造业中，散射计用于半导体的制造，有时需要在原子水平上进行测量。半导体具有许多需要精确校准到纳米级的层。计量学，或测量系统的研究和开发，已经包含了散射测量学，其性能优于即使是用强大的显微镜进行的成像叠加技术，工程师们也不用叠加图像，而是将不同波长的光散射到半导体晶圆上，并使用软件和算法测量它们的双向反射系数，这样就可以精确测量微小的失调，而不必依赖于不规则的显微镜光学或操作。
散射计技术允许通过仔细分析衍射光（与周期性散射表面的线型变化相比）对材料或表面进行快速、无损的分析。这项技术被放置在许多监测均匀雷达横截面或"条带"的卫星上地球表面的。再加上绘图技术、通讯系统和其他气象或搜救服务，这使得从土壤湿度到火山事件的一切都能在精确的尺寸变化中清晰地显示出来。
双向反射分布函数（BRDF）描述了光学、热力学中实际表面的光反射的材料特性，和计算机科学。像圆顶散射计这样的创新允许在多个入射角测量多个衍射，包括从天顶和方位角散射的光。这允许在读取散射结构时更高的灵敏度，允许在更短的时间内获取更多的数据。
散射计可以测量地形。散射计测量在不利条件下进行，取代了不精确的技术，这些技术可以被从云层覆盖到光学设备缺陷的不规则性所阻碍。使用微波脉冲提供信号和噪声的精确反馈，从而提供清晰、可靠的，以及可重复的数据收集。从这项技术获得的数据为包括海洋工业在内的许多领域的科学家带来了新的研究领域，其中散射测量提供了对天气模式、渔业、海洋安全和全球气候的洞察。
使用光学探测器不同波长的激光、散射计可以确定表面和底层基板的光学特性。地基技术可以利用抛物面反射器、射频（RF）子系统、中频（IF）电子学，以及数据采集单元。这些系统可以监测来自森林、土壤和植被等地形的后向散射数据
在制造业中，散射计用于半导体的制造，有时需要在原子水平上进行测量。半导体具有许多需要精确校准到纳米级的层。计量学，或测量系统的研究和开发，已经包含了散射测量学，其性能优于即使是用强大的显微镜进行的成像叠加技术，工程师们也不用叠加图像，而是将不同波长的光散射到半导体晶圆上，并使用软件和算法测量它们的双向反射系数，这样就可以精确测量微小的失调，而不必依赖于不规则的显微镜光学或操作。
散射计技术允许通过仔细分析衍射光（与周期性散射表面的线型变化相比）对材料或表面进行快速、无损的分析。这项技术被放置在许多监测均匀雷达横截面或"条带"的卫星上地球表面的。再加上绘图技术、通讯系统和其他气象或搜救服务，这使得从土壤湿度到火山事件的一切都能在精确的尺寸变化中清晰地显示出来。
双向反射分布函数（BRDF）描述了光学、热力学中实际表面的光反射的材料特性，和计算机科学。像圆顶散射计这样的创新允许在多个入射角测量多个衍射，包括从天顶和方位角散射的光。这允许在读取散射结构时更高的灵敏度，允许在更短的时间内获取更多的数据。
- 发表于 2020-07-10 12:31
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- 分类：技术
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