什么是薄膜分析(Thin Film Analysis)?

薄膜分析是一种检查半导体薄膜的过程,通常用于微处理器制造和太阳能应用,以确保材料符合操作规范。这通常通过各种形式的显微镜来完成,例如X射线衍射、扫描电子显微镜分析,在制造过程中,薄膜必须符合严格的光学、电学和沉...
薄膜分析是一种检查半导体薄膜的过程,通常用于微处理器制造和太阳能应用,以确保材料符合操作规范。这通常通过各种形式的显微镜来完成,例如X射线衍射、扫描电子显微镜分析,在制造过程中,薄膜必须符合严格的光学、电学和沉积标准,或者微小的缺陷可能会导致他们所支持的整个电路发生故障。
由于最终薄膜产品的制作过程中可能有许多步骤,因此,对产品的分析可以薄膜分析也需要很多步骤。在最初的基板生产阶段,薄膜分析包括从材料科学的角度观察薄膜的性质,包括其导电性、晶体结构、化学成分,以及晶体管等电子元件的接口点。在薄膜分析中使用各种形式的电子光谱,包括卢瑟福背散射光谱(RBS)确定元素成分,俄歇电子光谱(AES)分析表面特征,等等。
用于特殊应用的薄膜,如液晶显示器、太阳能电池和电池,每一个都涉及到一系列独特的薄膜分析步骤。薄膜技术也开始远离硅基材料。基于聚乙烯的柔性薄膜光伏用于太阳能应用的塑料化合物,也需要太阳能光伏分析,而这些材料的薄膜分析涉及一套不同于硅材料的过程
与用于微处理器的半导体薄膜不同,太阳能薄膜在使用过程中经常会发生环境变化,这就要求它在温度和其他极端条件下更加耐用和持久。因此,对太阳能屋顶材料的薄膜分析可能面临许多科学学科的检验,从材料科学到应用物理、化学和机械工程,直到产品上市。
纳米技术,包括薄膜分析设备和制造工艺,将继续在薄膜的质量控制中发挥关键作用。这包括必须在没有阳光和大多数灰尘和空气颗粒的洁净室实验室环境中进行薄膜分析,这些环境中的任何一种都会对薄膜的表面造成不可逆转的损害。用于创建首先,薄膜还可以用于运行测试用例和分析成品的质量,以确保正确校准过程以生产功能性最终产品。
  • 发表于 2020-07-10 13:42
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  • 分类:技术

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